LH6216 Sistema de pruebas de envejecimiento dinámico para circuitos integrados (CI)
Soluciones integrales de ensayos ambientales para evaluar el rendimiento de baterías

LH6216 Sistema de pruebas de envejecimiento dinámico para circuitos integrados (CI)
Soluciones integrales de ensayos ambientales para evaluar el rendimiento de baterías
Nuestro sistema de pruebas de envejecimiento dinámico está diseñado para validar la fiabilidad y el rendimiento de los chips bajo condiciones reales de operación. Mediante la combinación de factores de estrés como temperatura, voltaje y frecuencia, recrea entornos exigentes que permiten evaluar con precisión la resistencia y estabilidad de cada componente electrónico. Durante cada ciclo, el sistema identifica de forma temprana posibles fallos y optimiza los procesos de desarrollo, garantizando productos más sólidos y duraderos.
Actualmente, esta tecnología es esencial en sectores como la electrónica de consumo, la automotriz, las telecomunicaciones, la automatización industrial y la industria aeroespacial. Frente a las crecientes exigencias de rendimiento y confiabilidad, nuestras soluciones de prueba permiten a las empresas elevar sus estándares de calidad, reducir riesgos y reforzar su liderazgo competitivo.